Certificates

	ISO 9001 Certificate This certificate certifies that the quality Management System of production NT-MDT complies with the Requirements of GOST R ISO 9001-2001 (ISO 9001:2000)

	ISO 9001:2000 Certificate NT-MDT has established and applies a Quality Management System for design, development, manufacturing, delivery and servicing of scanning probe microscopes, nanotechnological laboratory equipment and accessories.

	Сертификат соответствия медицинского комплекса ИНТЕГРА Зондовая НаноЛаборатория ИНТЕГРА получила сертификат соответствия требованиям Госстандарта России от 12.2006.

	Сертификат типа средств измерений. Ntegra. Сертификат об утверждении типа средств измерений. Сертификат удостоверяет, что на основании положительных результатов испытаний утвержден тип микроскопов сканирующих зондовых Ntegra ЗАО "Нанотехнология МДТ", который зарегистрирован в Государственном реестре средств измерений под № 28664-05 и допущен к применению в Российской Федерации.

	Сертификат типа средств измерений. Solver PRO. Сертификат об утверждении типа средств измерений. Сертификат удостоверяет, что на основании положительных результатов испытаний утвержден тип микроскопов сканирующих зондовых Solver PRO ЗАО "Нанотехнология МДТ", который зарегистрирован в Государственном реестре средств измерений под № 28664-05 и допущен к применению в Российской Федерации.

	Сертификат соответствия Сертификат удостоверяет, что продукция компании НТ-МДТ соответствует требованием нормативных документов.

	Pattern approval certificate Pattern approval certificate of measuring instrument NanoEducator

	SCANNING PROBING MICROSCOPE WITH INVERTED OPTICAL MICROSCOPE SCANNING PROBING MICROSCOPE WITH INVERTED OPTICAL MICROSCOPE

	PIEZOSCANNER PIEZOSCANNER

	SCANNING PROBE MICROSCOPE PROVIDED WITH A LIQUID CELL. RU 2210731. SCANNING PROBE MICROSCOPE PROVIDED WITH A LIQUID CELL. RU 2210731.

	СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С ЖИДКОСТНОЙ ЯЧЕЙКОЙ. RU 2210818. Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов в жидкостной среде с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии. В сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) с жидкостной ячейкой, содержащий платформу с пьезосканером с держателем образца, плиту с кантилевером, первое уплотнение, соединенное с плитой, оптический блок слежения за кантилевером, включающий лазер и фотоприемник с системами юстировочной подвижки, оптически сопряженные с кантилевером, и блок предварительного сближения образца с кантилевером, введены корпус и второе уплотнение, выполненное в виде двухслойной упругой мембраны, один слой которой состоит из фторопласта, а второй - из упругого материала, причем упругая мембрана закреплена между корпусом и держателем образца, который представляет собой столик с зубом, соединенный с фланцем с пластичной прокладкой, при этом упругая мембрана расположена между зубом и пластичной прокладкой, плита содержит подвижную заливную трубку и газоотвод и закреплена быстросъемно на корпусе, оптический блок слежения за кантилевером установлен на плите, первое уплотнение закреплено между плитой и корпусом, а блок предварительного сближения образца с кантилевером установлен между платформой и пьезосканером. Подобное выполнение СЗМ позволяет упростить эксплуатацию и расширить функциональные возможности.

	СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СЕНСОРНОГО ЭЛЕМЕНТА СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА. RU 2220429. Изобретение относится к способу формирования сенсорного элемента сканирующего зондового микроскопа. Заключается в нанесении исходного материала на зонд кремниевого кантилевера, формировании сфокусированного электронного пункта в непосредственной близости от зоны начала формирования роста сенсорного элемента и управлении ростом острия посредством перемещения зонда относительно фокуса электронного пучка, причем перед началом формирования сенсорного элемента осуществляют модификацию поверхности кантилевера с приданием ей заданных значений смачиваемости и шероховатости, материал контролируемого состава наносят из паровой среды, а регулирование положительного заряда на поверхности сенсорного элемента используют дополнительный электронный луч. Технический результат: точное воспроизведение геометрии и состава сенсорного элемента.

	SCANNING PROBING MICROSCOPE WITH EQUIVALENT OF SCANNER. Scanning probing microscope with equivalent of scanner contains a pipe scanner, scanner equivalent, made in form of mechanically independent pipe elements of displacements. Scanner equivalent contains movement sensors. Scanner and equivalent movements elements are connected to control block. Mutual position of control electrodes of mechanically independent element of scanner equivalent displacements is like mutual position of control electrodes of appropriate scanner element. Via proportional alternation of value of control signal, equality of structure of electric fields in materials of scanner element and appropriate scanner equivalent element and likeness of their displacements is provided for.

	SCANNING PROBING MICROSCOPE WITH ELECTROCHEMICAL CELL. Scanning probe microscope has sample holder, first platform, onto which case is mounted, and piezoscanner. Elastic membrane is placed between case and piezoscanner. There is unit for preliminary bringing sample and probe together, as well as housing and probe fixer. The second platform is introduced into the scanner, onto which unit for preliminary bringing sample and probe together. Base and sample holder is put together with cup by means of first hole and the second hole. Second hole is connected with inert gas source. Cup is made of chemically-proof material. Case is made to be air-proof. Locker of the probe is fastened to piezoscanner. Housing is mounted onto cup for interaction with airtight case. Aerostatic plain bearing is formed between housing and airtight case. Sample holder, cup, housing, airtight case, elastic membrane and probe locker form all together closed cavity of electrochemical cell.

	TEST STRUCTURE FOR GRADUATING SCANNING PROBING MICROSCOPE. Device has base and artificial orderly microstructures on it with known geometric parameters, as artificial icrostructures nano-spheres or micro-spheres are used, outer surface of hich is covered with conductive layer.

	MAGNETIC DAMPER. Magnetic damper has vibration dampers provided with movable magnetic platform. The magnets are secure to the base.

	SCANNING PROBE MICROSCOPE WITH AUTOMATIC CANTILEVER TRACKING SYSTEM Cantilever tracking systems using scanning probe microscopes. SUBSTANCE: scanning probe microscope has base-coupled scanner that mounts cantilever for engagement with specimen, first mirror coupled with scanner, and laser optically coupled with first mirror, cantilever, and photodetector. Cantilever motion path is disposed on sphere. First mirror is overhanging from scanner for turning together with cantilever about center of sphere so that reflecting surface of first mirror faces cantilever and functions as central perpendicular to section interconnecting current position of cantilever and center of sphere, and continuation of laser optical axis beyond first mirror crosses center of sphere. EFFECT: enlarged functional capabilities; enhanced tracking precision and reliability, facilitated adjustment of device.

	СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ СЕНСОРНОГО ЭЛЕМЕНТА СКАНИРУЮЩЕГО ЗОНДОВОГО МИКРОСКОПА. RU 2220429 Изобретение относится к способу формирования сенсорного элемента сканирующего зондового микроскопа. Заключается в нанесении исходного материала на зонд кремнеевого кантилевера, формировании сфокусированного электронного пункта в непосредственной близости от зоны сенсорного элемента и управлении ростом острия посредством перемещения зонда относительно фокуса электронного пучка, причем перед началом формирования сенсорного элемента осуществляют модификацию поверхности кантилевера с приданием ей заданных значений смачиваемости и шероховатости, материал контролируемого состава наносят из паровой среды, а регулирование положительного заряда на поверности сенсорного элемента используют дополнительный электронный луч. Технический результат: точное вспроизведение геометрии и состава сенсорного элемента.

	СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С ЖИДКОСТНОЙ ЯЧЕЙКОЙ. RU 2210818. Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов в жидкостной среде с использованием методов сканирующей зондовой микроскопии. В сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) с жидкостной ячейкой, содержащий платформу с пьезосканером с держателем образца, плиту с кантилевером, первое уплотнение, соединенное с плитой, оптический блок слежения за кантилевером, включающий лазер и фотоприемник с системами юстировочной подвижки, оптически сопряженные с кантилевером, и блок предварительного сближения образца с кантилевером, введены корпус и второе уплотнение, выполненное в виде двухслойной упругой мембраны, один слой которой состоит из фторопласта, а второй - из упругого материала, причем упругая мембрана закреплена между корпусом и держателем образца, который представляет собой столик с зубом, соединенный с фланцем с пластичной прокладкой, при этом упругая мембрана расположена между зубом и пластичной прокладкой, плита содержит подвижную заливную трубку и газоотвод и закреплена быстросъемно на корпусе, оптический блок слежения за кантилевером установлен на плите, первое уплотнение закреплено между плитой и корпусом, а блок предварительного сближения образца с кантилевером установлен между платформой и пьезосканером. Подобное выполнение СЗМ позволяет упростить эксплуатацию и расширить функциональные возможности.

	СКАНИРУЮЩИЙ ЗОНДОВЫЙ МИКРОСКОП С ЖИДКОСТНОЙ ЯЧЕЙКОЙ. RU 2210731. Изобретение относится к нанотехнологии, в частности к устройствам, обеспечивающим анализ поверхности образцов с использованием жидкостных ячеек методом сканирующей зондовой микроскопии. Сущность: в сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) с жидкостной ячейкой, содержащий платформу, держатель кантилевера, кантилевер, держатель образца с образцом, магнитный захват, оптический блок слежения за кантилевером, пьезосканер, систему предварительного сближения зонда и образца, резервуар с жидкостью и блок управления, введена плита, установленная на платформе. Держатель кантилевера включает промежуточный фланец с магнитными и немагнитными участками, при этом держатель кантилевера содержит призму с n-поверхностями для закрепления кантилевера. При этом резервуар с жидкостью открыт сверху и установлен на платформе, держатель образца расположен в резервуаре с жидкостью, оптический блок слежения за кантилевером закреплен на плите, а система предварительного сближения зонда и образца размещена между пьезосканером и плитой. Подобное выполнение СЗМ позволяет расширить функциональные возможности прибора и повысить его разрешение.

	METHOD MEASURING CHARACTERISTICS OF SURFACE MAGNETIC FIELD WITH USE OF SCANNING SOUNDING MICROSCOPE Measurement technology. SUBSTANCE: method includes usage of magnetosensitive conducting sonde. During first scanning oscillations of sonde are excited on first frequency, sonde is brought to surface of specimen till amplitude of its oscillations reaches preset value, amplitude of oscillations of sonde is maintained by feedback system by way of relative vertical positioning of sonde and surface of specimen. Signal of relative vertical positioning is recorded in scanning point. Then oscillatory mechanical action on sonde is stopped and second scanning is carried out. Excitations are excited in this case by application of potential difference including time constant and variable components to sonde. Constant component should have such value which will minimize amplitude of oscillations on first harmonic of second frequency and this value is recorded. Second scanning is conducted with use of recorded signal of relative vertical positioning. Later additional scanning is carried out with use of recorded signal of relative vertical positioning and at same time constant component of potential difference of value memorized in previous scanning is applied and variable component of potential difference is set equal to zero to secure compensation for surface electric potential. After this deviation of sonde in these scanning points is recorded with obtainment of characteristics of magnetic field. EFFECT: elimination of influence of phase inhomogeneity of surface, increased measurement accuracy.